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    A22 MicroTec Plus 大量程激光粒度仪

    更新时间:2024-01-18

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    A22 MicroTec Plus 大量程激光粒度仪,采用聚焦激光散射或激光衍射的原理进行样品颗粒度的检测。低检测下限可达0.08µm ,在全球同类产品中都处于先地位。 大量程激光粒度仪A22的推出,可以替代之前Fritsch公司所生产的紧凑型、微米型、大量程微米型激光粒度仪,让您一次使用中可以同时获得过去三台机器的全部功效,使用更加便捷。
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